Optyczny spektrometr emisyjny ze wzbudzeniem  w plazmie indukcyjnie sprzężonej z optyką Echelle, wyposażony jest w źródło plazmy pionowej oraz przystawkę do analizy wodorków. W spektrometrze możliwa jest pionowa i pozioma obserwacja plazmy.

Przyrząd stosowany jest do analizy ilościowej (w tym do analizy śladowej) i jakościowej następujących materiałów:

• stal nisko-, średnio- i wysokostopowa,
• żeliwo,
• stopy metali kolorowych,
• materiały ceramiczne, surowce mineralne, odpady przemysłowe (osady z powierzchni rur kotłowych),
• wody przemysłowe i gruntowe.

Spektrometr wykorzystywany jest także do analizy próbek pod kątem zgodności z dyrektywą RoHS 2002/95/WE.